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autopano-sift-C 2.5.0

SIFT特徴検出アルゴリズムは、ブリティッシュコロンビア大学で発明され、デビッド·ロウによって公開されています。このアルゴリズムは、内のキーの特徴点を特定する機能を提供します任意の画像。それをさらに抽出物、このような各ポイントの高度に異なる情報とは、画像への変更の数に対して不変点を特徴付けることができます。これは、拡大縮小、回転、/明るさの変化を対比するために不変と変換の他の種類に部分的に不変です。アルゴリズムは、柔軟に画像マッチング、オブジェクト識別及び他のコンピュータビジョンアルゴリズムに関連する入力デ...